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Fotografías de la ministra de Economía, Industria y Comercio, MEIC, Victoria Hernández, en la apertura de la Semana del Sistema Interamericano de Metrología, SIM, declarada de interés público por el presidente de la República, Carlos Alvarado y donde Cost



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Fotografías de la ministra de Economía, Industria y Comercio, MEIC, Victoria Hernández, en la apertura de la Semana del Sistema Interamericano de Metrología, SIM, declarada de interés público por el presidente de la República, Carlos Alvarado y donde Cost

  • CR AN CR-AN-AH-FO-245406-245408
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  • 2019-04-03 - 2019-04-05

Participaron Epsy Campbell, primera vicepresidenta de la REpública, Dahianna Marín, directora del Laboratorio Costarricense de Metrología, Lacomet y Claire Saundry, presidenta del Sistema Interamericano de Metrología, SIM

Ministerio de Economía, Industria y Comercio